解决规划
存储芯片测试规划
行业测试挑战
规划概述
存储芯片测试规划概述
针对存储类芯片测试，长征娱乐推出针对大中小分歧芯片容量的测试规划：：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。。ST2500E、ST2500EX应对中小容量存储芯片测试，可别离支持512至1024路数字通道，对于市场上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存储器有着优良的支持。。适合的DIO通道与电源、高压源配比，？榛淖试，使得多site扩大单一易行。。高容量向量深度，可满足中小容量存储芯片的存储职能测试。。系统、各？榧涓咚偻ㄑ洞，算法硬件调度，可有效提升测试效能。。
Flex10K-M系列是针对FLASH/EEPROM/SRAM等存储类芯片测试研发的大容量高密度数字测试系统，系统能够提供多达2560数字通道，768DPS通道，支持ALPG算法，能够支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片测试。。
规划介绍
主题优势
CORE ADVANTAGES
有关产品
ST2500EX
支持1024数字I/O通道配置，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500EX
支持1024数字I/O通道配置，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500E
单机最高支持16块板卡，最高支持512数字I/O通道
ST2500E
单机最高支持16块板卡，最高支持512数字I/O通道
ST2500A
单机支持16个槽位，支持分歧职能板卡混插
ST2500A
单机支持16个槽位，支持分歧职能板卡混插
ST2516/ST2532
160~1280数字通道，160~1280PPMU通道，20~160DPS
ST2516/ST2532
160~1280数字通道，160~1280PPMU通道，20~160DPS
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